Na včasnou detekci konstrukčních vad s novými akcelerometry MEMS

Počátkem října společnost Analog Devices představila nové 3osé akcelerometry MEMS, které umožní měření vibrací s vysokým rozlišením a velmi nízkým šumem. Budou – li např. součástí bezdrátové sítě senzorů, mohou jednoduše a především včas varovat před narušenou statikou budov. Díky své malé spotřebě navíc prodlouží interval výměny baterií v takových čidlech.

Novinky máme dvě – ADXL354 s analogovým výstupem a ADXL355 s výstupem číslicovým. Stabilita obou akcelerometrů zajišťuje skvělou opakovatelnost výsledků měření se změnami teploty a také v čase, což oceníme třeba u navigace bezpilotních systémů, dronů apod., které staví na měřicích jednotkách IMU (Inertial Measurement Unit) a sklonoměrech. Díky takové opakovatelnosti při měření náklonu za různých provozních podmínek mohou nové součástky vykázat minimální chyby měření – i v náročném prostředí a ještě k tomu bez rozsáhlé kalibrace.

Nulový offset (0 g) se s teplotou a také pro všechny osy změní maximálně o 0,15 mg/°C. Hermeticky uzavřené pouzdro pak už jen zajistí, že koncový produkt vyhoví daným specifikacím ještě dlouho poté, co opustí výrobní linku. Se svým výstupním rozsahem FSR ±2 g až ±8 g, volitelnou číslicovou filtrací od 1 Hz do 1 kHz a nízkou hustotou šumu budou nové akcelerometry při uvážení proudového odběru pod 200 µA směle konkurovat i dražším strukturám.

Více na www.analog.com