IMAPS flash konference 2023. Vše od čipu až po systém

Koncem října se v centru CEITEC VUT v Brně uskutečnil již 9. ročník konference české a slovenské sekce mezinárodní společnosti pro mikroelektroniku a pouzdření IMAPS.

Tentokrát bylo hlavním cílem konference představit novinky z oblasti polovodičových technologií, kam byl zaměřen i workshop uskutečněný ve sdílených laboratořích CEITEC nano. Konferenci podpořila také firma TME Czech Republic s.r.o., která je jedním z největších distributorů elektronických a elektrotechnických součástek v ČR. Na konferenci bylo prezentováno 10 odborných příspěvků a 6 flash odborných prezentací doktorandů a vědeckých pracovníků.

První část přednášek zaměřenou na polovodičové technologie a nanotechnologie otevřela přednáška „Karbid křemíku pro výkonové aplikace“ (M. Lorenc, onsemi Rožnov p. R.). Ta informovala o současných polovodičových technologiích v souvislosti s možnostmi uplatnění karbidu křemíku v podobě SiC FET ve výkonových aplikacích. Rožnov pod Radhoštěm patří mezi tři lokality zvažované pro strategickou investici 2 miliard USD do SiC technologií pro výkonové aplikace, což by českému elektronickému průmyslu otevřelo nové možnosti v celosvětovém měřítku.

O možnostech využití litografie pro realizaci nanostruktur pojednávaly přednášky „Elektronová litografie a funkční nanostruktury“ (O. Brunn, ÚPT ČSAV Brno) a „Využití nanotechnologie dvoufotonové litografie“ (M. Matějka, IQS nano).

K novým směrům ve vývoji a konstrukci systémů senzoriky směřovala přednáška „Nanofotonika − fotony a plasmony − polaritony v nano a mikrostrukturách“ (F. Urban, Network Group), jež představila náhled na nové možnosti aplikované vědy pro praxi v sektoru optoelektroniky.

První část přednášek zakončila prezentace „Syntéza 1-D nanostruktur a jejich využití na základě fyzikálního chování“ (J. Hubálek, CEITEC VUT v Brně), která představila současné trendy v miniaturizaci jednodimenzionálních struktur z pohledu nanoelektroniky.

Druhá část přednášek byla zaměřena na aplikační sféru. Již tradičně sem patřila přednáška T. Zedníčka (Evropský institut pro pasivní součástky − EIPC) na téma „Nové technologie pasivních součástek pro efektivní přeměnu energie“ zdůrazňující rostoucí potřebu komponent pro výkonovou elektroniku. Ta se zaměřila na nové možnosti výroby vysoce výkonných polovodičů realizovaných technologií nitridu galia (GaN) a karbidu křemíku (SiC) při konstrukci napájecích zdrojů či konvertorů, u kterých sehrávají důležitou roli i pasivní součástky, např. křemíkové kondenzátory.

O nezastupitelné roli čištění v procesu elektronické výroby pojednávala přednáška „Řešení spolehlivosti elektronických komponent pod klimatickými vlivy“ (V. Sítko, Pbt works). S rostoucí miniaturizací se ochrana proti elektrochemické migraci stává nezbytnou při zajištění spolehlivosti elektronických sestav, čehož lze dosáhnout především odstraněním iontově aktivních látek účinným čištěním.

Na význam nedestruktivní inspekce poukázala přednáška „Strategie rentgenového skenování při kontrole elektroniky“ (T. Zikmund, CEITEC VUT v Brně), kde byly ukázány možnosti analýz a kontrol elektronických komponentů rentgenovými zobrazovacími metodami.

O identifikaci nepůvodních polovodičových součástek bylo pojednáno v přednášce „Analogová příznaková analýza – užitečný nástroj při posuzování původnosti polovodičových součástek“ (P. Neumann, UTB Zlín), kde byl prezentován postup pro odhalování padělků na příkladu jednočipového mikroprocesoru řady STM32F303 od ST Microelectronics.

Závěrečná přednáška „SMT verifikace kritických pouzder SMD 05 FAMILY pro kosmické aplikace“ (M. Šimčák, BD SENSORS, divize CSRC Space) byla náhledem na zpřísněné požadavky při výrobě elektronických modulů určených pro kosmické aplikace.

Kromě zmíněných přednášek prezentovali v krátké formě své vědecké příspěvky také studenti doktorského studia a na závěr se uskutečnil workshop ve sdílených laboratořích CEITEC nano zaměřený na možnosti využití infrastruktury CEITEC nano při realizaci prototypů či analýze vzorků pro průmysl. Partneři z průmyslu či jiných institucí zde mohou najít pomoc například při analýze vzorků ve výrobě, testování poruch při reklamacích nebo přímo využití výrobních linek v čistých prostorách (ISO5) při realizaci prototypů i malosériovou výrobu.

Součástí konference byl také společenský večer v Technickém muzeu města Brna, kde si účastníci prohlédli výstavu „Není Tesla jako TESLA“.

Odkazy:

[1] cz.imapseurope.org

[2] imapseurope.org

[3] imaps.org