Mezi chováním vf obvodů a výdrží baterie existuje vztah. Nástroje R&S ukáží, jaký

Složité čipsety, vf moduly nebo rovnou celá zařízení – zde všude potřebujeme ze svého zdroje dostat naprosté maximum. K dosažení takového cíle nám nyní pomohou i nové vícekanálové nástroje Rohde & Schwarz. Půjde totiž o kompletní řešení pro testování výdrže baterie v libovolných provozních režimech. Rozlišení 18 bitů pak znamená měření již v nanoampérovém rozsahu. Jak to celé pracuje?

Vf tester bude mít na starosti řízení komunikace se zkoumaným zařízením DUT, které rovněž nechává vstupovat do řady různých pracovních módů. Sonda pak sbírá data o proudovém odběru a také napětích ve stanovených bodech a zapomenout nesmíme ani na software se kterým budeme mít celý proces nejen pod kontrolou, ale rovněž pro obsluhu zajistíme docela podrobná hlášení.

Mezi událostmi které se odehrávají na bezdrátovém rozhraní zkoumaného systému a jeho vlastní spotřebou tak dokážeme najít přesný vztah. A nejen to. Díky vysokému dynamickému rozsahu sondy tak učiníme v rámci celého rozsahu – od nízkých odběrů v režimech standby či sleep až po obrovské spotřeby, kdy zařízení vysílá s maximálním výkonem. Reálnou výkonovou spotřebu jednotlivých prvků, např. procesoru, vf částí apod., dokážeme souběžně a ještě k tomu řízeně porovnávat až na čtyřech různých místech obvodu.

Více v celé březnové zprávě Rohde & Schwarz forges new paths in the monitoring of the battery life of wireless devices. Na stránkách DPS jsme psali též Analýza zatížení baterie? Silné nástroje pomohou i slabším „kouskům“.

(robenek) @dps-az.cz