PXI a SMU. S novými požadavky poroste i počet kanálů

Ve společnosti National Instruments představili jednotku SMU (Source Measure Unit), která ve srovnání s předchozími PXI SMU od NI nabídne šestinásobně vyšší hustotu stejnosměrných kanálů. Výsledek v podobě PXIe-4163 např. využijeme při testování vysokofrekvenčních, mikroelektromechanických a dalších analogových polovodičových součástek pracujících třeba i se smíšenými signály.

Novinka dále rozšiřuje možnosti systému STS (Semiconductor Test System) oblíbeného mezi výrobci čipů právě pro svou propustnost, poměr cena / výkon a také množství místa, které na ploše výrobního závodu zabere. Nebude to však jen o rostoucí hustotě DC kanálů nahrávající paralelnímu zpracování. Stejné vybavení totiž upotřebíme jak při ověřovacích testech v laboratoři, tak též ve výrobě a během měření se proto vyhneme možným problémům s korelací.

Nové SMU PXIe-4163 využijeme buď v rámci STS nebo ve spojení se samostatnými systémy PXI. Očekáváme přitom čtyřkvadrantovou činnost až s 24 kanály pro jeden slot, rozsah ±24 V na kanál, stejně tak až 100 mA jako zdroj či proudovou noru, proudovou citlivost 100 pA, vzorkování na úrovni do 100 kS/s, možnosti SourceAdapt pro minimalizaci překmitů či oscilací, software sloužící k interaktivní konfiguraci včetně ladění, celkový počet až 408 špičkových kanálů SMU pro jediné šasi PXI (4U) a třeba i kompletní podporu ze strany STS, zahrnující např. rozvody na systémové úrovni, kalibraci či mapování pinů.

Podrobnější informace naleznete na stránkách www.ni.com/sts/.

(robenek) @dps-az.cz