česky english Vítejte, dnes je neděle 24. listopad 2024

K testům prvků SiC a GaN zvolte nástroje Tektronix. Třeba WBG-DPT

20.07. 2023 | Zprávy
Autor: Jan Robenek
01.jpg

Moderní osciloskopy pracující se smíšenými signály a výkonová elektronika – to jde hezky dohromady. Třeba i díky společnosti Tektronix, která nedávno představila další ze svých řešení. A nepůjde o nc jiného, než nové spínací součástky se širokým zakázaným pásem, které se u elektrovozidel, solárních systémů nebo např. při obecném ovládání těší v průmyslu takové oblibě.

Přesně zde pak Tektronix přichází s nástroji WBG-DPT (Double Pulse Test) umožňujícími provádět automatizovaná, opakovatelná, ale i přesná měření na základních stavebních prvcích měničů nové generace, jako jsou tranzistory MOSFET na bázi karbidu křemíku (SiC) či nitridu galia (GaN). Stačí mít jen některý z MSO osciloskopů zmíněné značky v řadách čtyři, pět nebo i šest (na stránkách DPS Elektronika od A do Z si o nich můžete udělat rychle obrázek třeba v článku MDO nebo MSO? S osciloskopy Tektronix chybu neuděláte). Systém výrazně zkracuje dobu potřebnou k měření a chlubí se např. i tím, jak v případě více pulzů při jediném zobrazení zprostředkuje podrobnosti k zotavení v závěrném směru.

Více informací najdete v celé zprávě Tektronix Releases Oscilloscope-based Double Pulse Test Solution that speeds up validation time on SiC & GaN Technologies.

robenek@dps-az.cz