česky english Vítejte, dnes je neděle 22. září 2024

Články

RSS

Platformová portabilita 32bitových mikrokontrolérů

Standardizace jednojádrové MCU platformy je v oboru vysoce žádaná, ale i v případě stejného jádra se návrháři stále potýkají s problémem připojení...

Regulátory jasu LED osvětlení

V tomto vydání časopisu DPS vám představujeme naši produkci regulátorů jasu LED osvětlení. Již tři roky dodáváme našim zákazníkům regulátory pod tímto...

Skříňky: technické funkce

Vedle kombinovaných skříněk velikosti „Euro“ karet bývají též výhodně používány malé aluminiové skříňky ve formě tubusů nebo půlených skořepin....

Zdroj SWS1000L nyní s certifikací 2MoPP nabízí špičkový výkon až 1224 W

Společnost TDK oznamuje, že zdroje řady SWS1000L jsou nyní dostupné s certifikací 2MOPP (Means of Patient Protection), díky čemuž se staly vhodným řešením napájení pro řadu...

Automatizovaná výroba aneb jak nepřijít o prsty

Problematika bezpečnosti na pracovištích je velmi frekventované téma, a to jak v odborných periodikách, tak na stránkách vnitřních směrnic výrobních provozů. V...

Evropští výrobci elektroniky a problematika tzv. konfliktních surovin

Výrobci elektroniky v Evropě jsou v poslední době činěni zodpovědnými za nepřímou podporu a financování porušování lidských práv, a to protože nakupují a...

Zmenšeno na správnou míru

Trend miniaturizace v průmyslových zařízeních je neodvratitelný. Tomuto dogmatu se musí podřídit zejména dodavatelé automatizační techniky a elektroniky. Technologická skupina...

EM4333 – Duální bezkontaktní Smart Card

Popis obvodu a možnosti využití karty EM4333 – novinka roku 2013 – je první představitel zcela nové generace HF (13,56 MHz) obvodů kombinujících RFID čip s nízkou spotřebou a...

Jak vybírat lupu

Při výběru správné lupy pro danou práci je třeba nejdříve určit, jaké nástroje mají být při práci používány; poté zjistit rozměry a povahu zkoumaného...

Kam směřuje průmyslová CT

Pomocí rentgenové výpočtové tomografie (CT – Computed Tomography) mohou být zjišťovány různorodé skryté vady i prováděna rozměrová měření jinými...