česky english Vítejte, dnes je sobota 15. březen 2025

Články

RSS

Norma IPC 7095B – Implementace pouzder s maticovým uspořádáním kuliček (BGA) a pouzder s jemnou roztečí kuliček (FBGA)

Používání BGA a FBGA vyžaduje některé speciální požadavky na znalosti pracovníků konstrukce, montáže, kontroly a oprav. IPC 7095B poskytuje užitečné a praktické informace pro...

Norma IPC 7094 – Konstrukce, technologie montáže aktivních čipů a flip čipů na DPS

Použití flip-chip technologie při montáži aktivních čipů na substrát vyžaduje některé unikátní znalosti pracovníků konstrukce, montáže, kontroly a oprav. IPC-7094 poskytuje...

Analýza defektů a měření rozměrů s CT v μm přesnosti

Pomocí rentgenové výpočtové tomografie (CT – Computed Tomography) mohou být měřeny vady odlitků v trojrozměrném prostoru, a to i vady s nízkým kontrastem, jako jsou trhliny,...

Programovatelné funkční generátory řady DG 4000

Každý rok se u příležitosti nejvýznamnějších veletrhů, kam Mezinárodní strojírenský veletrh v Brně určitě stále patří, snaží vystavující firmy...

Možnosti využití RTG a CT diagnostiky (ne) jen v elektrotechnice – 2. část

CT diagnostika Navážeme na článek o RTG diagnostice voidů z minulého čísla a více se zaměříme na problematiku nedestruktivního testování pomocí 3D CT technologie....

Nový kompaktní datalogger HIOKI

Společnost HIOKI v těchto dnech zahajuje prodej nového, velmi kompaktního desetikanálového dataloggeru s typovým označením LR8431-20. Tento přístroj navazuje na starší model...

Metrologické lázně a zkušební komory; přepínací systémy signálů a měřicích míst a záznamníky kvality napájecí sítě

Amtest-TM s.r.o. − jako dlouholetý mezinárodní dodavatel přesné měřicí techniky pro kalibraci, testování a diagnostiku elektrických a neelektrických veličin v...

Myslete netradičně – softwarově orientovaný přístup k VF testování

Klasický inženýrský přístup k testování nového standardu bezdrátové komunikace často zahrnuje výběr tradičního přístroje s co nejbližší...

NIDays 2012 Praha – 25. 10. 2012 Bratislava – 23. 10. 2012

Prostřednictvím NIDays 2012 představí National Instruments poslední novinky z oblasti technologických trendů, produktů a řešení založených na grafickém návrhu systémů, a to...

Měření na USB sběrnici

Při analýze přenosu dat mezi USB zařízením a USB Hostem, které mají externí konektory, je obvykle nutné vytvořit si vlastní sondu, která se připojí přímo k USB sběrnici...