česky english Vítejte, dnes je pondělí 23. prosinec 2024

Články

RSS

Proces opravy BGA/QFN

Oprava desek s plošnými spoji s vadným obvodem v provedení BGA, micro-BGA nebo QFN bývá často náročným a zdlouhavým procesem. Ten spočívá v odstranění...

Pokyny pro osazování DPS pro 0,4 mm PoP pouzdra

Poznámka: Tento článek navazuje na pokyny pro návrh DPS s PoP pouzdry [1]. Jakmile je návrh desky s plošnými spoji dokončen, je možné přistoupit k další fázi...

MultiSIM v príkladoch – 1. časť: Network Analyzer

Pri práci s MultiSIM-om je veľmi dôležité poznať možností jednotlivých súčiastok, obvodov a meracích prístrojov. Užívatelia programu využívajú len malú časť toho,...

RF komponenty MEMS: indukčnosti, laditelné kondenzátory a filtry

Úvod RF MEMS je možné stále častěji nalézt v mikrovlnných nebo RF aplikacích moderních komunikací, včetně bezdrátových a satelitních. Do RF MEMS komponent nebo...

Účinnost vyzařování: měření skutečné výkonnosti antény

Anténa je elektrická součást potřebná k vysílání a příjmu elektromagnetické energie z okolního prostoru sloužící k vytvoření bezdrátového...

Testování elektrické bezpečnosti

Jednotlivé druhy spotřebičů podle charakteru jejich použití a třídy ochrany spadají do různých bezpečnostních kategorií s odlišnou skladbou vyžadovaných testů. Mezi...

Měření RLC v teorii i praxi

Pokud bychom měli vybrat nějaké měřicí přístroje, které úzce souvisí s hlavním tématem tohoto časopisu – plošnými spoji, určitě by do něj „zapadla“ skupina RLC...

Prototypová laboratoř NI ELVIS

Následující text navazuje na článek „Program Multisim a jeho místo ve výuce na odborných školách“, který byl uveřejněn v tomto časopise. V článku jsem...

Možnosti detekce padělků elektronických součástek

Proč se obávat padělků elektronických součástek S padělanými výrobky se můžeme setkat na různých úrovních a v různých výrobkových komoditách. V oblasti...

Kombinovaný systém pro testování osazených DPS metodou JTAG

Pro testování osazených DPS kombinovanou metodou JTAG byl vyvinut ve firmě Ryston Electronics uvedený testovací a měřicí systém. Systém je tvořen základní deskou s...